產(chǎn)品分類
中圖儀器CEM3000系列納米形貌觀測(cè)掃描電鏡以“空間適配+性能強(qiáng)+易用高效“三大核心優(yōu)勢(shì),成為你的檢測(cè)增效利器。它操作系統(tǒng)簡(jiǎn)便,使用過(guò)程簡(jiǎn)單快捷。樣品一鍵裝入,自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力(自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度)幫助用戶在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像,大大提升了使用效率。
更新時(shí)間:2025-11-07
產(chǎn)品型號(hào):CEM3000
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CEM3000系列100Pa倉(cāng)內(nèi)真空度掃描電鏡操作系統(tǒng)簡(jiǎn)便,使用過(guò)程簡(jiǎn)單快捷。具有高度的靈活性和豐富的功能,包括多種檢測(cè)器、附件,可以滿足廣泛的研究和工業(yè)需求,包括半導(dǎo)體芯片失效分析。
更新時(shí)間:2025-11-05
產(chǎn)品型號(hào):CEM3000
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傳統(tǒng)的落地式SEM掃描電鏡儀器可能需要一個(gè)專門的房間或設(shè)施,而中圖儀器國(guó)產(chǎn)掃描電鏡公司的CEM3000系列掃描電鏡的框架尺寸還有所縮小,具有更高的易用性,要堅(jiān)固耐用得多。
更新時(shí)間:2025-11-03
產(chǎn)品型號(hào):CEM3000
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CEM3000系列自動(dòng)化顆粒度統(tǒng)計(jì)掃描電鏡具有高度的靈活性和豐富的功能,包括多種檢測(cè)器、附件,可以滿足廣泛的研究和工業(yè)需求,包括半導(dǎo)體芯片失效分析。無(wú)論樣品尺寸、重量、導(dǎo)電性如何,掃描電鏡都可以讓您輕松應(yīng)對(duì)挑戰(zhàn),獲得出色的SEM圖像和SEM分析結(jié)果。
更新時(shí)間:2025-10-30
產(chǎn)品型號(hào):CEM3000
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傳統(tǒng)的落地式SEM掃描電鏡儀器可能需要一個(gè)專門的房間或設(shè)施,而CEM3000中圖儀器臺(tái)式電鏡掃描儀器的框架尺寸還有所縮小,具有更高的易用性,要堅(jiān)固耐用得多。
更新時(shí)間:2025-10-28
產(chǎn)品型號(hào):CEM3000
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掃描電鏡SEM中圖儀器具有高度的靈活性和豐富的功能,包括多種檢測(cè)器、附件,可以滿足廣泛的研究和工業(yè)需求,包括半導(dǎo)體芯片失效分析。無(wú)論樣品尺寸、重量、導(dǎo)電性如何,掃描電鏡都可以讓您輕松應(yīng)對(duì)挑戰(zhàn),獲得出色的SEM圖像和SEM分析結(jié)果。
更新時(shí)間:2025-10-24
產(chǎn)品型號(hào):CEM3000
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