SuperView W1系列納米級白光干涉三維形貌儀以0.1nm級分辨率、8μm/s掃描速度、300+種標準參數,一站式解決超精密測量精度不足、多材質適配難、批量檢測效率低等測量難題。應用覆蓋半導體、3C電子等多行業場景,數據驅動檢測,賦能精密制造升級。
更新時間:2025-11-11
產品型號:SuperViewW1
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中圖儀器SuperView W系列0.1nm形貌重復性白光干涉儀一鍵完成單/多區域自動測量、批量分析,編程測量功能可預設流程實現一鍵操作,單個精細器件測量用時短,大幅提升檢測 throughput。
更新時間:2025-11-07
產品型號:SuperViewW1
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SuperViewW工業表面3D白光干涉檢測儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
更新時間:2025-10-28
產品型號:SuperViewW1
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SuperViewW白光干涉3D表面輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。
更新時間:2025-10-17
產品型號:SuperViewW1
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SuperViewW1白光干涉光學輪廓儀系統可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點。
更新時間:2025-10-15
產品型號:SuperViewW1
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SuperViewW納米級光學輪廓白光干涉儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。
更新時間:2025-10-13
產品型號:SuperViewW1
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