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SuperViewW非接觸式光學干涉表面輪廓形貌儀是利用光學干涉原理研制開發的超精細表面輪廓測量儀器。測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

中圖儀器SuperViewW微納米超精密3D光學形貌輪廓儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

SuperViewW自動三維光學輪廓儀是以白光干涉技術為原理，具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。

SuperViewW自動三維白光干涉光學輪廓儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。它具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點。

SuperViewW微觀形貌幾何尺寸光學輪廓測量儀以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。

SuperViewW光學納米級光學表面粗糙度測量儀利用光學干涉原理，具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。